[发明专利]一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法有效
| 申请号： | 201610891953.0 | 申请日： | 2016-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN106546902B | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 宋恩琳 | 申请（专利权）人： | 芯海科技（深圳）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市凯达知识产权事务所 44256 | 代理人： | 刘大弯 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法，该方法在CP1阶段中，在程序区模拟一个测试接口，与量产ATE设备进行通信；同时，在CP1、CP2阶段将校准区的有用信息存储下来到公共网络端，在UV之后的CP3阶段，再将对应的公共网络端的有用信息写入到OTP存储区。本发明通过模拟测试接口实现对待测模块的访问，并与ATE设备进行通信，解决了OTP型MCU因没有测试接口导致无法量产测试的问题，解决OTP型MCU在某个测试接口失效导致无法测试的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 otp mcu 预留 测试 接口 情况 量产 方法 | ||
【主权项】：
1.一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法，该方法在CP1阶段中，在程序区模拟一个测试接口，与量产ATE设备进行通信；同时，在CP1、CP2阶段将校准区的有用信息存储下来到公共网络端，在UV之后的CP3阶段，再将对应的公共网络端的有用信息写入到OTP存储区，所述CP1是指CP1测试，CP2是指CP2测试，CP3是指CP3测试，UV是指紫外线擦除；对于CP1、CP2阶段的有用信息存储，将每个批次，每片晶元，晶元上每颗IC的有用信息都进行保存并且可一一对应；采用根据批次号和晶元片号时间戳生成文件名，然后根据XY坐标对每颗die进行定位；通过XY坐标生成一个圆形的数据，该圆形的数据是与die在晶元上的位置对应的圆形，所述圆形的数据存储在公共网络端。
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