[发明专利]基于MDTD的气体泄漏红外成像检测系统性能评价方法在审

专利信息
申请号: 201610880607.2 申请日: 2016-10-09
公开(公告)号: CN106323901A 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 金伟其;张旭;王霞;李家琨 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504
代理公司: 北京理工大学专利中心11120 代理人: 李爱英,仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于MDTD的气体泄漏红外成像检测系统性能评价方法,属于气体检测领域;本发明首先对红外成像系统的MDTD参数进行测试,根据MDTD,计算黑体目标和黑体背景条件下的辐射出射度之差;然后对于确定气体,查询红外光谱数据库得到气体的吸收系数,由朗伯‑比尔定律计算气体的透射率,根据透射率,计算气体目标和黑体背景条件下的辐射出射度之差。最终利用两种条件下辐射出射度之差相等,得到最小可探测气体浓度,该方法充分考虑到气体的吸收和气体云团的大小等因素,具有广泛的应用价值。
搜索关键词: 基于 mdtd 气体 泄漏 红外 成像 检测 系统 性能 评价 方法
【主权项】:
基于MDTD的气体泄漏红外成像检测系统性能评价方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:利用MDTD测试系统测得红外成像检测系统在靶标角直径fC下的最小可探测温差MDTD(fC)值;步骤二:确定黑体目标和黑体背景的辐射出射度之差ΔMTG_BK;ΔMTG_BK=∫λ1λ2[M(λ,Tt)-M(λ,Tb)]dλ---(1)]]>其中,λ代表波长,λ1,λ2分别表示红外成像检测系统工作波段的波长下限和波长上限,M(λ,Tt)为黑体目标在波长λ处、温度Tt时的光谱辐射出射度,M(λ,Tb)为黑体背景在波长λ处、温度Tb时的光谱辐射出射度,其中,Tb为黑体背景温度,Tt为黑体目标温度,Tt=Tb+MDTD(fC);步骤三:查询红外光谱数据库,得到待检测气体在波长λ处、温度Tgas时的光谱吸收系数αgas(λ,Tgas),根据朗伯‑比尔吸收定律计算待检测气体光谱透射率τgas(λ,Tgas); τgas(λ,Tgas)=exp(‑αgas(λ,Tgas)c·l) (2)其中,c是待检测气体的体积浓度,l是待检测气体的光学路径长度;步骤四:确定待检测气体目标和黑体背景的辐射出射度之差ΔMGAS_BK;ΔMGAS_BK=∫λ1λ2[1-τgas(λ,Tgas)][M(λ,Tgas)-M(λ,Tb)]dλ---(3)]]>其中,M(λ,Tgas)为待检测气体在波长λ处、温度Tgas时的光谱辐射出射度;步骤五:令步骤二和步骤四两个辐射出射度之差相等,即ΔMTG_BK=ΔMGAS_BK,联立求解式(1)和式(3),求得的c·l值即为对应靶标角直径fC和气体温度Tgas时的最小可探测气体浓度MDGC(fC)值,根据所得的MDGC(fC)值评价红外成像检测系统对于泄露气体检测性能。
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