[发明专利]一种显示基板的异物检测方法和修复方法有效
| 申请号： | 201610877751.0 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN106198561B | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 冯永安;王亚君;许志军;林汇哲;郑英花 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94;G01N21/95;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 周娟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种显示基板的异物检测方法和修复方法，涉及显示技术领域，以减少异物造成的不良的问题，从而提高产品的良率。该异物检测方法包括利用显示基板和衬底基板模拟彩膜基板和TFT阵列基板贴合；光学检测模拟贴合前后显示基板的功能膜层，得到贴合前后的光学检测图像信息；根据贴合前后的光学检测图像信息，判断显示基板的功能膜层是否存在高度大于等于模拟盒厚的异物；如果存在，通过贴合后的光学检测图像信息确定高度大于等于模拟盒厚的异物在所述显示基板的功能膜层的位置，上述修复方法是根据上述异物所在位置修复显示基板。本发明提供的显示基板的异物检测方法用于显示技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 异物 检测 方法 修复 | ||
【主权项】：
1.一种显示基板的异物检测方法，其特征在于，包括：提供一显示基板和衬底基板，利用所述显示基板和所述衬底基板，模拟彩膜基板和TFT阵列基板贴合；其中，模拟彩膜基板和TFT阵列基板的贴合后，所述显示基板与衬底基板之间的距离为模拟盒厚；光学检测模拟贴合前后所述显示基板的功能膜层，得到贴合前后的光学检测图像信息；其中，所述显示基板的功能膜层与所述衬底基板相对；根据贴合前后的光学检测图像信息，判断所述显示基板的功能膜层是否存在高度大于等于模拟盒厚的异物；当所述显示基板的功能膜层存在高度大于等于模拟盒厚的异物，通过贴合后的光学检测图像信息确定高度大于等于模拟盒厚的异物在所述显示基板的功能膜层的位置；其中，所述异物的高度所在方向与模拟盒厚所在方向相同。
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