[发明专利]正电子发射断层成像系统飞行时间性能检测方法及装置有效
| 申请号： | 201610877357.7 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN106353786B | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | 邓子林 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G01T7/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 骆希聪 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种正电子发射断层成像系统飞行时间性能检测方法及装置，该方法包括：使用该系统对活度规则分布的受检对象进行数据采集；将采集的数据进行有飞行时间信息的反投影操作，获取第一反投影数据；将采集的数据进行无飞行时间信息的反投影操作，获取第二反投影数据；将第一及第二反投影数据进行对比，根据对比数据获取系统的飞行时间性能。本发明可便捷高效地检测系统的飞行时间性能。 | ||
| 搜索关键词： | 正电子 发射 断层 成像 系统 飞行 时间 性能 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种正电子发射断层成像系统飞行时间性能检测方法，包括：使用该系统对活度规则分布的受检对象进行数据采集；将采集的数据进行有飞行时间信息的反投影操作，获取第一反投影数据；将采集的数据进行无飞行时间信息的反投影操作，获取第二反投影数据；将第一及第二反投影数据进行对比，根据对比数据获取系统的飞行时间性能；其中，对采集的数据不进行图像重建而只进行反投影操作。
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