[发明专利]一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法有效
| 申请号： | 201610876880.8 | 申请日： | 2016-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN106323947B | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 刘文龙;应仰威;赖晓健;陈挺;郭淳 | 申请（专利权）人： | 浙江全世科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01J3/443 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法，包括：步骤1，对初测区域进行N个观测位置的待测波长光谱强度数据进行采集获得光谱强度初测矩阵R；根据所述观测位置的预设精度λ生成全观测区域的单位矩阵；步骤2，根据光谱强度初测矩阵R和全观测区域的单位矩阵A进行空间插值算法获得全观测区域内光谱强度预测模型M，所述M的每个元素包括一个坐标和对应坐标上的光谱强度值；步骤3，求解全观测区域内光谱强度预测模型M中光谱强度最大的元素MAX，根据该光谱强度最大的元素MAX获得的坐标为最佳观测位置。有效地提高了仪器的分析效率，减少了对标准样品、气体等资源消耗，有效降低了仪器的使用成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用 mpt 光谱仪 垂直 观测 位置 快速 优化 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法，其特征在于，包括：步骤1，对初测区域进行N个观测位置的待测波长光谱强度数据进行采集获得光谱强度初测矩阵R，其中，所述特征点数N满足以下公式：![]()
公式中，Z为可靠性系数；λ为观测位置的预设精度，M初为所述初测区域面积，M初的单位为平方厘米，E为最大可接受误差值；根据所述观测位置的预设精度λ生成全观测区域的单位矩阵：![]()
其中，j＝W全/λ，W全为全观测区域的宽度，W全的单位为厘米，k＝H全/λ，H全为全观测区域的高度，H全的单位为厘米；步骤2，根据光谱强度初测矩阵R和全观测区域的单位矩阵A进行空间插值算法获得全观测区域内光谱强度预测模型T，所述T的每个元素包括一个坐标和对应坐标上的光谱强度值；步骤3，求解全观测区域内光谱强度预测模型T中光谱强度最大的元素MAX，根据该光谱强度最大的元素MAX获得的坐标为最佳观测位置。
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