[发明专利]基于FPGA的故障修复方法和装置有效

专利信息
申请号: 201610864689.1 申请日: 2016-09-29
公开(公告)号: CN106528312B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 陈乃奎;张春雷;江国进;白涛;马洪杰;陈银杰;王成;史雄伟;张峰 申请(专利权)人: 北京广利核系统工程有限公司;中国广核集团有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F11/10
代理公司: 北京国电智臻知识产权代理事务所(普通合伙) 11580 代理人: 孙小敏
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于基于FPGA的控制系统的技术领域,提供一种在核安全控制系统中基于FPGA的故障修复方法和装置;FPGA包括第一算法单元和第二算法单元;所述方法包括:向测试数据存储单元导入测试数据,所述测试数据存储单元包括第一测试数据存储区和第二测试数据存储区;对所述测试数据存储单元中的测试数据进行CRC校验;将经过CRC校验的正确数据传输至所述第一算法单元和所述第二算法单元,并对两个算法单元内算法模块运算结果进行取样;将取样结果与预定的运算结果相比较,判断所述算法模块是否存在故障;如果存在故障,则发送修复脉冲进行修复;如果修复失败,则标记故障位置并输出故障信号。
搜索关键词: 基于 fpga 故障 修复 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于FPGA的故障修复方法,所述FPGA包括第一算法单元和第二算法单元,并且所述第二算法单元与所述第一算法单元的内部设置有相同的算法模块;其特征在于,所述方法包括:将外部测试数据向所述FPGA的测试数据存储单元导入测试数据,所述测试数据存储单元包括第一测试数据存储区和第二测试数据存储区;对所述测试数据存储单元中的测试数据进行CRC校验,如果其中一个测试数据存储区域的测试数据出错,用另一个测试数据存储区域中正确的测试数据进行覆盖修正;如果两个测试数据存储区域的测试数据都出错,则重新加载新的测试数据;将经过CRC校验的正确数据传输至所述第一算法单元和所述第二算法单元,并对两个算法单元内算法模块运算结果进行取样;将取样结果与预定的运算结果比较,如果取样结果与预定的运算结果不相同,判定所述算法模块存在故障,发送故障修复信号进行修复;并且如果修复失败,则标记故障位置并输出故障信号。
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