[发明专利]一种太赫兹近场成像系统及方法有效

专利信息
申请号: 201610859262.2 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN106442394B 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 周涛;黎华;曹俊诚 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586;G01J3/28
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 刘星
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种太赫兹近场成像系统及方法,所述太赫兹近场成像系统包括太赫兹相干光源模块、外腔光路模块及近场探针模块。本发明采用高功率太赫兹量子级联激光器产生高功率THz辐射,利用探针技术和激光器自混频效应探测目标的近场太赫兹信号,进而实现高分辨率成像功能。由于采用自混频效应代替近场探测器,光路系统简洁紧凑;近场探针反射的近场太赫兹信号与入射信号共光路,精度高且结构简单,显著改善了传统近场成像技术的缺陷,对高精度太赫兹成像技术的发展及应用具有积极的推动作用。
搜索关键词: 一种 赫兹 近场 成像 系统 方法
【主权项】:
1.一种太赫兹近场成像系统,包括太赫兹相干光源模块、外腔光路模块及近场探针模块;其特征在于:所述太赫兹相干光源模块包括太赫兹光源及与所述太赫兹光源相连的锁相放大器;所述太赫兹光源用于产生太赫兹信号,并接收样品近场太赫兹信号的反射信号,以在所述太赫兹光源的谐振腔内产生自混频效应;所述锁相放大器用于探测所述太赫兹光源的自混频信号,以实现对成像采样位置的信号提取;所述外腔光路模块用于收集所述太赫兹光源发出的太赫兹信号,并汇聚至样品表面,其中汇聚至样品表面的太赫兹信号经样品反射,产生样品的近场太赫兹信号;所述外腔光路模块还用于收集样品的近场太赫兹信号的反射信号,并将该反射信号沿所述外腔光路模块的光路反向传输至所述太赫兹光源的出光端面,并在谐振腔内产生自混频效应;所述近场探针模块包括近场探针;所述近场探针用于反射样品的近场太赫兹信号,其中所述近场探针反射的近场太赫兹信号与入射信号共光路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610859262.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top