[发明专利]用于全脑光电同步脑功能成像的光极‑电极排布方法在审
| 申请号： | 201610855833.5 | 申请日： | 2016-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN106510618A | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 蒋田仔;张玉瑾;张鑫;左年明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B5/0476;A61B5/0478 |
| 代理公司： | 北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙)11482 | 代理人： | 宋宝库 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于医疗器械领域，具体提供一种用于全脑光电同步脑功能成像的光极‑电极排布方法。本发明旨在解决现有光极‑电极排布方法检测范围小、定位不准确的问题。本发明的用于全脑光电同步脑功能成像的光极‑电极排布方法包括如下步骤选取电极位置；放置电极；放置光极；调整光极位置。本发明通过遵循国际通用的“10‑20”定位系统准则排列电极、将光源极与光检测极对称地排布在电极两侧、并限定二者间的距离、调整二者角度的方式，使得光极与电极定位准确的同时，还可实现在全脑范围内进行光电同步检测，并且光极间最大化实现复用。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光电 同步 功能 成像 电极 排布 方法 | ||
【主权项】：
一种用于全脑光电同步脑功能成像的光极‑电极排布方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：遵循国际通用的“10‑20”定位系统的准则选取多个光电同步检测电极位置；将电极放置于选定的光电同步检测电极位置上；将光极放置于电极的两侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院自动化研究所，未经中国科学院自动化研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610855833.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
