[发明专利]激光共轴测距仪有效
| 申请号： | 201610828345.5 | 申请日： | 2016-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN106199991B | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 王治霞 | 申请（专利权）人： | 王治霞 |
| 主分类号： | G02B27/28 | 分类号： | G02B27/28;G01S7/481;G01S17/08 |
| 代理公司： | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人： | 张彩珍 |
| 地址： | 400016 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种分光片及其激光共轴测距仪和应用，包括光束源，还包括沿光轴方向依次设置的第二透镜、分光片和第一透镜，所述分光片上设有半透半反区和反射区，所述光束源发出的光束经半透半反区和第一透镜后形成平行光束照射至目标物，目标物反射光束经第一透镜聚拢并由反射区和半透半反区反射至测量位置或观察位置，该分光系统，可应用于测量系统或观察系统中。本发明解决了挖孔法中存在的物体返回激光泄露造成检测盲点的问题。本发明不仅提高了检测的信噪比，对一般物体实现了共轴测量，也对远处物体、弱反射和镜面物体实现了共轴测量。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 测距仪 | ||
【主权项】：
一种分光片，其特征在于：包括分光片本体，所述分光片本体上具有用于反射的第一区域以及用于透光和反射的第二区域，所述第一区域为反射区，所述第二区域为半透半反区或偏振分光区，在使用时，光束源发出的光束经第二区域照射至目标物，目标物的反射光经第二区域和第一区域反射。
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