[发明专利]用于集成电路中粒子检测与错误校正的系统及方法

摘要

本申请提供用于集成电路中粒子检测与错误校正的系统及方法。一种用于检测并校正与原子粒子相关联的错误事件的集成电路，其包括连接到监控电路的错误检测电路。错误检测电路可包括嵌入在集成电路的基板表面下方的粒子感测电路(例如，二极管电路)以及通过导电通孔耦合至粒子感测电路的粒子验证电路(例如，读出放大器)。粒子感测电路可检测并收集由经过集成电路的原子粒子产生的杂散电荷。粒子验证电路可基于由粒子感测电路收集的杂散电荷产生的、表示原子粒子的粒子能量的输出信号。监控电路可基于输出信号识别粒子能量并随后产生错误校正信号，其激活集成电路中的错误校正操作。

主权项

一种具有基板和包括形成在所述基板的表面处的多个晶体管的逻辑电路的集成电路，所述集成电路包括：粒子感测电路，其形成在所述基板内、在所述多个晶体管中的至少一个晶体管下方，其中所述粒子感测电路可操作用于检测经过所述逻辑电路的宇宙粒子；以及粒子验证电路，其响应于借助所述粒子感测电路检测所述宇宙粒子产生检测信号。