[发明专利]测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法在审
| 申请号： | 201610817829.X | 申请日： | 2016-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN106128345A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 韩慧 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路，每个测试电路包括晶体管以及与晶体管并联的光致导通器件，晶体管的栅极与一开关信号相连接，晶体管的第一电极与一数据信号相连接，晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，光致导通器件的两端分别连接至第一电极与第二电极，通过采用点光源照射光致导通器件，使得晶体管的第一电极与第二电极导通，即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内，由此判断数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路，能够快速判断不良失效模式，从而提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 阵列 显示 面板 方法 | ||
【主权项】：
一种测试电路，位于一阵列基板的非显示区，其特征在于，包括：晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，在点光源照射的情况下所述光致导通器件能够使所述第一电极与第二电极导通。
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