[发明专利]综合检测数控机床精度的“X”形航空薄壁标准试件有效
| 申请号： | 201610814438.2 | 申请日： | 2016-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN106441963B | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 江小辉;张振亚;李郝林;郭凯 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根;王晶 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种综合检测数控机床精度的“X”形航空薄壁标准试件，包括“X”形航空薄壁标准试件、支撑件，所述“X”形航空薄壁标准试件由非均匀薄壁厚度的“X”型曲面件和矩形基座组合而成，所述非均匀薄壁厚度的“X”型曲面件由上下两部分组成，下部分由在两个平面的花瓣状的曲线在矩形基座平面的投影互相交叉,并具有在交汇处转换变化弯曲形成四个开闭角转换形态；上部分由花瓣状曲线和圆扫掠形成的具有对称凸起和凹陷的曲面，通过检测“X”形航空薄壁标准试件的加工精度，判断机床的多轴联动精度、动态刚度特性，以及反映出待加工数控机床对于航空薄壁零件的加工特性。 | ||
| 搜索关键词： | 综合 检测 数控机床 精度 航空 薄壁 标准 | ||
【主权项】：
1.一种综合检测数控机床精度的“X”形航空薄壁标准试件，包括“X”形航空薄壁标准试件、支撑件，其特征在于：所述“X”形航空薄壁标准试件由非均匀薄壁厚度的“X”型曲面件和矩形基座组合而成，所述非均匀薄壁厚度的“X”型曲面件由上下两部分组成，下部分由在两个平面的花瓣状的曲线在矩形基座平面的投影互相交叉, 并具有在交汇处转换变化弯曲形成四个开闭角转换形态；上部分由花瓣状曲线和圆扫掠形成的具有对称凸起和凹陷的曲面，通过检测“X”形航空薄壁标准试件的加工精度，判断机床的多轴联动精度、动态刚度特性，以及反映出待加工数控机床对于航空薄壁零件的加工特性。
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