[发明专利]一种IC测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种IC测试装置及方法，该装置包括控制器、Socket座、N个测试模块、N个继电器、第二端与Socket座连接、控制端与控制器连接的模拟开关组，模拟开关组为L级多输入模拟开关的级联，模拟开关组用于依据控制器的控制来选择待测试芯片的相应引脚与相应测试模块连接；第一端与控制器连接、另一端与Socket座连接、用于在控制器与Socket座之间建立通信的通信线路。本申请提供的测试装置在N个测试模块与放置待测试芯片的Socket座之间设置了由L级多输入模拟开关的级联构成的模拟开关组，在对待测试芯片进行测试时，不需要待测试芯片的引脚直接与控制器连接，也无需采用多个控制器，大大地节省了控制器的资源，降低了测试装置的成本，简化了测试装置的结构。

主权项

1.一种IC测试装置，其特征在于，包括：控制器；与待测试芯片连接、用于将所述待测试芯片与所述测试装置连接起来的Socket座；N个用于依据所述控制器的控制来对所述待测试芯片进行相应测试的测试模块，每个所述测试模块的第一端与所述控制器连接，第二端与一一对应的继电器的第一端连接，N为整数；N个与所述测试模块一一对应的继电器，每个所述继电器的控制端与所述控制器连接，第二端与模拟开关组的第一端连接；第二端与所述Socket座连接、控制端与所述控制器连接的所述模拟开关组，所述模拟开关组为L级多输入模拟开关的级联，L为不小于2的整数，所述模拟开关组用于依据所述控制器的控制来选择所述待测试芯片的相应引脚与相应测试模块连接；第一端与所述控制器连接、另一端与所述Socket座连接、用于在所述控制器与所述Socket座之间建立通信的通信线路；所述模拟开关组为第一级多输入模拟开关与第二级多输入模拟开关的级联，其中，所述第一级多输入模拟开关的个数为1个，所述第二级多输入模拟开关的个数为M个，M不小于2且不大于所述第一级多输入模拟开关的输入端数；或者，所述模拟开关组为第一级多输入模拟开关、第二级多输入模拟开关以及第三级多输入模拟开关的级联，其中，所述第一级多输入模拟开关的个数为1个，所述第二级多输入模拟开关的个数为M个，M不小于2且不大于所述第一级多输入模拟开关的输入端数，所述第三级多输入模拟开关的个数不大于所述第二级多输入模拟开关的所有输入端的个数。