[发明专利]一种减少ICP‑MS、ICP‑AES全过程分析误差的定量检测方法在审
申请号: | 201610797405.1 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN106248775A | 公开(公告)日: | 2016-12-21 |
发明(设计)人: | 阳国运;张洁;唐裴颖;叶秋;何雨珊;覃盛 | 申请(专利权)人: | 广西壮族自治区地质矿产测试研究中心 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 贵阳派腾阳光知识产权代理事务所(普通合伙)52110 | 代理人: | 管宝伟 |
地址: | 530022 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种减少ICP‑MS、ICP‑AES全过程分析误差的定量检测方法,该方法包括内标元素选择、样品溶液制备、标准曲线制备、样品检测及结果计算四个步骤;通过在样品处理过程中尽早加入内标,从而通过内标校正消除了基体干扰及全过程分析误差的目的。与常规的检测方法相比,该方法不仅简化了处理手续,缩短了操作时间,还扩大了样品的检测范围,在保证样品检测结果准确的同时,还能降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 减少 icp ms aes 全过程 分析 误差 定量 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种减少ICP‑MS、ICP‑AES全过程分析误差的定量检测方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:a、内标元素选择:根据样品类型和待测元素的检测方法选择内标元素,所选内标元素应符合以下条件:样品中不含内标元素;内标元素受到的干扰少;使用ICP‑AES检测时,待测元素分析线与内标元素分析线的电离能相近,尽可能在同一波段或具有较一致的电离行为,即具有好的相关性;使用ICP‑MS检测时,待测元素与内标元素质量数及电离能尽可能接近;b、样品溶液的制备:内标在样品处理前或样品处理过程中加入,然后制备成样品溶液;c、标准曲线制备:在标准系列溶液中加入内标,并混合均匀;d、样品检测及结果计算:先进行标准曲线的检测,绘制曲线后再进行样品的检测。
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