[发明专利]一种焦点尺寸测量方法

摘要

本发明公开了一种焦点尺寸测量方法，所述焦点尺寸测量方法利用X射线管上的锥束铅孔，使用平板探测器采集X射线通过锥束铅孔后的光场图像，得到边沿射线强度分布，即可计算得到焦点尺寸。本发明仅需利用射线管上的铅锥孔，使用平板探测器采集光场图像得到光场边沿射线强度分布，即可计算得到焦点尺寸；操作和测试条件简单，实验结果表明该方法能方便快捷的给出焦点尺寸。

主权项

1.一种焦点尺寸测量方法，其特征在于，所述焦点尺寸测量方法利用X射线管上的锥束铅孔，使用平板探测器采集X射线通过锥束铅孔后的光场图像，得到边沿射线强度分布，计算得到焦点尺寸；通过拍摄X射线管光场，在探测器输出图像数据中找到光场中心点a0的像素位置，并在光场边沿找到点a1、a2、a3的像素位置，l1、l2为射线管几何参数，为已知数据，l3通过刻度尺测量得到，则x轴方向焦点的长度L由下式求出：L＝c1L1+c2L2；其中L1、L2表示线段，c1、c2分别表示L1、L2对中心X射线出射方向“有效焦点”的贡献系数；L1、L2根据相似三角形的几何关系，求出：y轴方向上，靶面与z轴垂直，焦点的宽度W由下式求出：W＝W1+W2；其中W1、W2由下式求出：投影系数c1、c2由下式求出：所述tan(θ1)、tan(θ3)由下式求出：其中，s为探测器像素宽度，α为靶角，l1、l2和l3分别为焦点中心到铅锥孔上表面距离、铅锥孔厚度及铅锥孔下表面到平板探测器距离，θ1和θ3分别为射线在a1和a3处与探测器的夹角。