[发明专利]一种测试非接触式IC卡中EEPROM cell电流的方法及装置有效
| 申请号： | 201610756857.5 | 申请日： | 2016-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN106297894B | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 武鹏;张建伟;徐艺均 | 申请（专利权）人： | 聚辰半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 周荣芳;潘朱慧 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试非接触式IC卡中EEPROM cell电流的方法及装置，基于ISO‑14443协议定义测试命令cmd71，在其命令参数中定义需要测试的byte地址和bit地址；发送标准读命令cmd30并解码其命令参数，获得需要测试的page地址进行寄存；发送测试命令cmd71，通过组合page地址及byte地址和bit地址，生成需要测试cell电流的EEPROM的存储单元的地址，从而通过EEPROM的电流测试端口测试cell电流。本发明测试的装置，包括14443命令解码单元，参数解码单元，参数寄存器，参数组合单元，控制单元以及EEPROM接口控制单元。本发明基于ISO‑14443协议的命令组合，可以方便的定位需要进行测试的EEPROM的bit位置，对于测试EEPROM的cell电流有极大的帮助，具有节省时间，提高效率，准确方便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 接触 ic eepromcell 电流 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试非接触式IC卡中EEPROM cell电流的方法，其特征在于，包含：步骤1，基于ISO‑14443协议定义测试命令cmd71，用来测试EEPROM的cell电流；在测试命令cmd71的命令参数中定义需要测试的byte地址和bit地址；步骤2，发送ISO‑14443协议中的标准读命令cmd30，标准读命令cmd30的命令参数中定义有需要测试的page地址；步骤3，发送测试命令cmd71，通过组合标准读命令cmd30参数中的page地址以及测试命令cmd71参数中的byte地址和bit地址，生成需要测试cell电流的EEPROM的存储单元的地址；步骤4，根据得到的存储单元的地址，通过EEPROM的电流测试端口v_tcur来测试cell电流。
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