[发明专利]一种表面下聚焦超声波水浸检测方法有效
| 申请号： | 201610752445.4 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN106370729B | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 赵娜;李铮;李泽;王婵;董瑞琴;何喜;王文艳;张瑾 | 申请（专利权）人： | 中航动力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/30 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710021*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种表面下聚焦超声波水浸检测方法，先将待检工件置于超声波水浸检测系统中；确定待检工件的检测面大小，调整超声波水浸检测系统的超声波探头与待检工件之间的距离h，距离h小于超声波探头的焦距H；对待检工件进行检测，获得扫描图像，完成表面下聚焦超声波水浸检测。本发明通过降低超声波探头到待检工件表面的距离h即水距，从而将超声波探头检测的方式由表面聚焦变为表面下聚焦，通过表面下聚焦超声波水浸检测，能够解决实际检测过程中杂波水平较高的问题，有效地降低了检测杂波水平，提高了检测信噪比，保证了检测质量。本发明方法简单快捷且易于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 聚焦 超声波 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种表面下聚焦超声波水浸检测方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)将待检工件置于超声波水浸检测系统中；待检工件为发动机钛合金叶盘；(2)确定待检工件的检测面大小，调整超声波水浸检测系统的超声波探头与待检工件之间的距离h，距离h小于超声波探头的焦距H，且该距离h使一次底波始终位于二次界面波之前；(3)对待检工件进行检测，获得扫描图像，完成表面下聚焦超声波水浸检测；超声波水浸检测系统包括X轴‑Y轴‑Z轴三维立体坐标轴，步骤(2)中通过移动X轴和Y轴确定待检工件的检测面大小，通过Z轴控制超声波探头与待检工件之间的距离；步骤(3)中，调用距离h的TCG曲线，在转速为20～35转/分钟以及扫查步径为0.8～2.0mm的条件下对待检工件进行检测；超声波水浸检测系统的型号为LS‑200；超声波探头采用IHM点聚焦探头，频率为5MHz，晶片尺寸20mm；步骤(2)中H/3≤h＜H。
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