[发明专利]非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置

摘要

本发明涉及测试验证领域，公开了一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，替代传统的使用不同非接触读卡器进行兼容性测试的方法，以及传统的手动调节读卡器发射波形进行兼容性测试的方法，提高测试验证的效率和全面性。

主权项

1.一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，其特征在于，所述装置由测试空间( 1) 、信号波形调节单元( 2) 、控制单元( 3) 以及PC( 4) 组成，在非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试时，PC( 4) 下达测试指令给控制单元( 3) ，控制单元( 3) 控制信号波形调节单元( 2) 发射相应的测试信号到测试空间( 1) ，对测试空间中的非接触智能卡进行相应的信号波形的特征参数的兼容性测试,所述信号波形调节单元( 2) 为可自动调节信号波形特征参数的天线匹配电路,该电路是在基本的天线阻抗匹配电路的电容上并联多个预设电容形成的电路，具体包括：基本的天线阻抗匹配电路，该基本的天线阻抗匹配电路包括电阻R1、电阻R1’、电感L0、电感L0’、电容C0、电容C0’、电容C1、电容C1’、电容C2、电容C2’，电感L0的一端与电容C1的一端连接、还与电容C0的一端连接，电容C1的另一端与电阻R1的一端连接、还与电容C2的一端连接，电容C0的另一端接地，电容C2的另一端接地，电感L0’的一端与电容C1’的一端连接、还与电容C0’的一端连接，电容C1’的另一端与电阻R1’的一端连接、还与电容C2’的一端连接，电容C0’的另一端接地，电容C2’的另一端接地，电阻R1的另一端通过天线与电阻R1’的另一端相连；还包括预设电容C1_1、C1_2……C1_n，均并联于电容C1的两端；还包括预设电容C1’_1、C1’_2……C1’_n，均并联于电容C1’的两端；还包括预设电容C2_1、C2_2……C2_n，均并联于电容C2和C2’组成的串联电路的两端；这些预设电容上皆串联有程控开关，通过程控开关控制各个预设电容是否接入电路，以此来调节发射信号波形的特征参数。