[发明专利]一种收集和检测样本中被分析物质的系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201610739534.5 申请日: 2016-08-26
公开(公告)号: CN107782575B 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 陆维克;陈金树;高飞 申请(专利权)人: 杭州奥泰生物技术股份有限公司
主分类号: G01N1/02 分类号: G01N1/02;G01N33/00
代理公司: 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 代理人: 向庆宁
地址: 310000 浙江省杭州市杭州经济技术*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种收集和检测样本中被分析物质的系统,该系统包括收集装置和检测装置,其中,所述的收集装置包括一取样元件,与取样元件连为一体的第一盖体,以及容纳取样元件的储存腔,所述的储存腔包括开口、侧壁和底部;所述的储存腔的底部包括第一易碎元件,该易碎元件可以被刺破;所述的检测装置包括容纳收集装置的收容腔和检测腔,其中,收容腔包括侧壁和底部以及开口,该检测装置还包括第一刺破元件,第一刺破元件能刺破收集装置的第一易碎元件,所述的第一盖体包括第二易碎元件,该易碎元件可以被刺破元件刺破。
搜索关键词: 一种 收集 检测 样本 分析 物质 系统 及其 方法
【主权项】:
一种收集和检测样本中被分析物质的系统,该系统包括收集装置和检测装置,其中,所述的收集装置包括一取样元件,与取样元件连为一体的第一盖体元件,以及容纳取样元件的存储腔,所述的储存腔包括开口、侧壁和底部围成;在所述的储存腔的底部包括第一易碎元件,该易碎元件可以被刺破元件刺破;所述的检测装置包括容纳收集装置的收容腔和检测腔,其中,该容纳收集装置的腔包括侧壁和底部以及开口,该检测装置还包括第一刺破元件来刺破收集装置的第一易碎元件。
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