[发明专利]基于矩阵选通TR组件幅相的测试方法有效
申请号: | 201610728764.1 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106443599B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 谭博;张杰;张静;张文宝;伍怀琪;张绍华;延伟勤 | 申请(专利权)人: | 零八一电子集团有限公司 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 628017*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,利用本发明可以显著减少测试人员工作量。本发明通过下述技术方式予以实现:在相控阵雷达天线中加装接收测试信号的多路矩阵开关,雷达内部的频率源产生两路测试信号,通过矩阵开关输入被测TR组件和馈电支路;波控器按雷达终端计算机TR组件接收幅相测试指令程序,将幅相调整和变频信息叠加在该测试信号上,叠加幅相信息后的测试信号被传输给与之相连的接收机,接收机将输入信号下变频和放大后送给与之相连的信号处理机,信号处理机解算出测试信号幅相值,雷达终端计算机对实测幅相值与理论幅相值进行比较,判断TR组件及馈电支路是否正常,从而获取该TR组件的移相和调幅误差,以此循环,完所有TR组件及对应馈电网络的测试。 | ||
搜索关键词: | 基于 矩阵 tr 组件 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,其特征在于包括如下步骤:在相控阵雷达天线中加装接收测试信号的多路矩阵开关,再由雷达内部的频率源产生两路测试信号,频率源产生的一路信号通过放大功分器后输入给TR组件,另一路通过矩阵开关注入被测TR组件和馈电支路;TR组件受控于与之相连的波控器,波控器按雷达终端计算机TR组件接收幅相测试指令程序,对被测TR组件和馈电支路进行逐位移相、调幅和变频,将幅相调整和变频信息叠加在测试信号上,叠加幅相信息的测试信号被送至与之相连的接收机中,接收机将输入信号下变频和放大后送给与之相连的信号处理机,信号处理机通过数字信号处理,将解算出测试信号上搭载的被测幅相信息送至雷达终端计算机,对实测幅相值与理论幅相值进行比较,判断TR组件及馈电支路是否正常,并获取具体的移相和调幅误差,以此循环,完成所有TR组件及对应馈电网络的测试,给出TR组件及相应馈电支路状态信息及天线各辐射单元幅相一致性的信息。
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