[发明专利]一种激光测振校准用大触发延迟的累积校准方法有效
申请号: | 201610726154.8 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106124033B | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 梁志国;朱振宇 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01H9/00 | 分类号: | G01H9/00 |
代理公司: | 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 邬晓楠 |
地址: | 100095*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明一种激光测振校准用大触发延迟的累积校准方法,属于无线电计量测试技术领域。利用周期为T的正弦波形相位差测量的周期性特征,即相位差每增加2π,对应时间差增加T,而T的测量准确度可以远高于相位差的测量准确度;将数字示波器的大延迟时间划分成多个小延迟,每一个小延迟均小于T,以保证测量判定大延迟时间内包含的整数个正弦信号周期个数不出现计数判断错误,进而使用相位差测量方法测量不足一个T部分的时间延迟,再合成数字示波器的大延迟时间差;激光测振仪的延迟可再通过数字示波器大触发延迟测量功能来读取。本发明所提方法可针对任意触发延迟时间差进行计量校准,不存在硬件延迟量程范围不足、分辨力不足、校准点不足等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 校准 触发 延迟 累积 方法 | ||
【主权项】:
一种激光测振校准用大触发延迟的累积校准方法,其特征在于:其核心技术特征为:利用周期为T的正弦波形相位差测量的周期性特征,即相位差每增加一个2π弧度,对应时间差增加一个正弦信号周期T,呈现典型的量子化特征,而正弦信号周期T的测量准确度可以远高于相位差的测量准确度;将数字示波器的大延迟时间划分成多个小延迟的叠加,每一个小延迟均小于正弦信号周期T,以保证测量判定大延迟时间内包含的整数个正弦信号周期个数不出现计数判断错误,进而使用相位差测量方法测量不足一个正弦周期T部分的时间延迟,从而合成数字示波器的大延迟时间差,获得精确的测量结果;激光测振仪的延迟可以进一步通过数字示波器大触发延迟测量功能来读取,即实现了本发明一种激光测振校准用大触发延迟的累积校准方法。
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