[发明专利]基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610681264.7 申请日: 2016-08-17
公开(公告)号: CN106371005A 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 徐宝令;丁志钊;孙运臻;曹晋;单梅林 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司37221 代理人: 张勇
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置及方法,包括开关矩阵和低频示波器,其特征是微波组件的输出信号通过开关矩阵选通低频输出信号通路或高频输出信号通路到低频示波器的第二通道,示波器的第一通道以微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为微波组件开关响应时间量。本发明使用低频示波器和检波器分情况组合的方式将低频示波器的测量范围扩大,通用且经济的实现了微波组件开关响应时间量的测试。
搜索关键词: 基于 开关 矩阵 微波 组件 响应 时间 测试 装置 方法
【主权项】:
一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,包括开关矩阵和低频示波器,其特征是:微波组件的输出信号通过开关矩阵选通低频输出信号通路或高频输出信号通路到低频示波器的第二通道,示波器的第一通道以微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为微波组件开关响应时间量。
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