[发明专利]嵌入式软件的单参数事件序列测试数据生成方法

摘要

嵌入式软件的单参数事件序列测试数据生成方法，涉及一种嵌入式软件的测试数据生成方法。本发明为了解决现有的嵌入式软件测试系统测试数据的生成方法没有考虑数据的时序问题和测试数据非常庞大问题。本发明首先生成初始的包含所有的t维事件交互集合Q，初始化测试数据覆盖向量V为空；在Q中随机挑选1条候选t维事件交互，加入测试数据覆盖向量V中，同时在Q中删除该t维事件交互；然后在Q中取一条适应值最大的t维事件交互追加到向量V的尾部，并在Q中删除所有被向量U覆盖的t维事件交互；直至Q为空，输出测试数据覆盖向量V，测试数据覆盖向量V中的数据及顺序就是生成的单参数事件序列测试数据。本发明适用于嵌入式软件的测试数据生成。

主权项

1.嵌入式软件的单参数事件序列测试数据生成方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：在单参数事件序列中，针对任意t个事件，设事件序号分别为1，2，……，t；则由t个事件组成的任意一个有序序列s1→s2→...→st，叫做一个t维事件交互；生成初始的t维事件交互集合Q，此时令Q中包含所有的t维事件交互，有Q＝Ht，Ht为全部t维事件交互集；初始化测试数据覆盖向量V为空，测试数据覆盖向量V的长度m＝0；步骤2：在t维事件交互集合Q中随机挑选1条候选t维事件交互，加入测试数据覆盖向量V中，同时在t维事件交互集合Q中删除该t维事件交互；步骤3：计算t维事件交互集合Q中每个t维事件交互的适应值，取一条适应值最大的t维事件交互，将适应值最大的t维事件交互追加到向量V的尾部，向量V长度增加t维；适应值计算方法为：设当前已有的测试数据覆盖向量为V，未被测试数据覆盖向量V覆盖的全部t维事件交互所组成的集合对应为当前的t维事件交互集合Q；对Q中某一t维事件交互x，取测试数据覆盖向量V中最后t‑1个事件与x组成一个向量U；令向量U中包含的所有t维事件交互组成的集合为HU,t，则适应值计算函数定义为：f(x)＝|{HU,t∩Q}|   (1)适应值为HU,t和向量Q中交集t维事件交互的个数；步骤4：在t维事件交互集合Q中删除所有被向量U覆盖的t维事件交互；步骤5：若t维事件交互集合Q不为空，则执行步骤3，否则执行步骤6；步骤6：输出测试数据覆盖向量V，测试数据覆盖向量V中的数据及顺序就是生成的单参数事件序列测试数据。