[发明专利]宽量程高精度的信号测量方法有效
申请号: | 201610662913.9 | 申请日: | 2016-08-12 |
公开(公告)号: | CN106302014B | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 王茂凌;何定高;谢平;黄才兴;陈家毅;曾勇;楚鹰军 | 申请(专利权)人: | 电信科学技术第五研究所有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610031 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 宽量程高精度的信号测量方法,涉及通信技术。本发明包括下述步骤:A、测量时间锁存信号:记录被测信号上升沿时刻Tx在N个系统时间周期后的系统时钟上升沿时刻Ty;B、测量精细参考时间段Ttdc:测量Tx到Ty之间的时延,即为精细参考时间段Ttdc;C、计算被测信号进入时间Tx:Tx=Tsys‑Ttdc;D、计算相位差;重复步骤A‑C,以两次测量得到的Tx值相减,即为相位差。本发明的测量方法不受测量范围的限制,达到宽量程测量的效果。 | ||
搜索关键词: | 量程 高精度 信号 测量方法 | ||
【主权项】:
1.宽量程高精度的信号测量方法,应用时间数字转换芯片TDC‑GP22测量,包括下述步骤:A、将被测信号接入高精度测量芯片TDC‑GP22的start管脚,将基于被测信号上升沿产生的时间锁存信号Tsys接TDC‑GP22的stop管脚;测量时间锁存信号:记录被测信号上升沿时刻Tx在N个系统时间周期后的系统时钟上升沿时刻Ty;B、TDC‑GP22测量精细参考时间段Ttdc:测量Tx到Ty之间的时延,即为精细参考时间段Ttdc;C、计算被测信号进入系统相对于系统准确的时间值Tn=Tsys‑Ttdc;D、计算相位差:重复步骤A‑C,进行两次测量,Tn+1‑Tn为被测信号相邻两次的相位差值;所述步骤A中,将系统时钟识别出的被测信号上升沿延迟N个时钟周期后产生时间锁存信号Tsys,时间锁存信号用于锁存系统时间,并同时作为TDC‑GP22的测量结束信号,锁存信号的延时的系统时间周期数N满足
N为正整数,Tclock为系统的时钟周期。
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