[发明专利]多层聚合物管状制品层厚无损测量方法

摘要

本发明公开了一种多层聚合物管状制品层厚无损测量方法，包括(1)求取待检测层厚的一层或多层材料分别对应的声阻抗；(2)利用声阻抗求取超声波在对应层材料中传播的声速；(3)垂直向制品发射超声波，记录超声检测探头分别接收到待检测层厚的某一层材料上表面和下表面反射回波的时间间隔；(4)利用超声波在待检测层厚的某一层中的声速和该层对应的所述时间间隔，得到该层的厚度，进而得出所有待检测层厚的一层或多层的层厚。本发明的多层聚合物管状制品层厚无损测量方法，通过测量声阻抗，求得超声波的传播声速，进而结合超声波测量的时间间隔，求得对应层的层厚，整个过程不需要对管状制品进行破坏，避免了浪费；且测量精度高，实用性强。

主权项

1.一种多层聚合物管状制品层厚无损测量方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)求取待检测层厚的一层或多层材料分别对应的声阻抗；所述管状制品为n层结构，定义表层为第1层，最内层为第n层，步骤(1)中，求取各层材料的声阻抗的方法如下：(1‑1)利用同一超声探头发出同样的入射波到标准样和管状制品外表面，分别测量它们外表面的反射回波；(1‑2)利用下述公式求取管状制品表层的声阻抗：上式中，Z1为管状制品表层的声阻抗；ZL为标准样的声阻抗、Z0为探头与被测件之间的耦合介质的声阻抗；A表示标准样和管状制品外表面反射波的幅值比；(1‑3)利用下述公式依次求出管状制品其余层的声阻抗：上式中，Zi‑1、Zi、Zi+1分别表示第i‑1层、第i层和第i+1层材料的声阻抗，i为1‑n的自然数，i＝1时，Zi‑1＝Z0；i＝n时，Zi+1＝Zn+1，Z0和Zn+1分别表示与管状制品表层和芯层接触的介质的声阻抗；(2)利用声阻抗求取超声波在对应层材料中传播的声速；(3)垂直向制品发射超声波，记录超声检测探头分别接收到待检测层厚的某一层材料上表面和下表面反射回波的时间间隔；(4)利用超声波在待检测层厚的某一层中的声速和该层对应的所述时间间隔，得到该层的厚度，进而得出所有待检测层厚的一层或多层的层厚。