[发明专利]内嵌式触摸屏、测试电路及测试方法在审

专利信息
申请号: 201610632454.X 申请日: 2016-08-04
公开(公告)号: CN106291216A 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 黄耀立;贺兴龙 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种内嵌式触摸屏测试电路,包括为触控电极提供电压信号的第一测试信号源、第二测试信号源,用于控制第一测试信号源、第二测试信号源导通的第一薄膜晶体管与第二薄膜晶体管,以及为所述第一薄膜晶体管与第二薄膜晶体管提供开关信号的开关信号源;有益效果为:本发明提供的内嵌式触摸屏测试电路,增加开关信号源控制薄膜晶体管导通,从而使测试信号源向触摸电极提供不同电压值,使触摸电极对应显示亮度不同来检测异常光点进而判断触摸电极是否出现断短路状况,在内嵌式触摸屏的中段Cell制程中与触摸屏连接,对触摸屏进行有效的触摸效果测试,避免不良触摸屏在流入其他制程中导致不必要的材料浪费。
搜索关键词: 内嵌式 触摸屏 测试 电路 方法
【主权项】:
一种内嵌式触摸屏测试电路,其特征在于,设置于触控面板外侧,所述触控面板包括:触控电极阵列,所述触控电极阵列包括相互独立的若干奇型触控电极与偶型触控电极;所述测试电路包括:第一测试信号源,用于为所述奇型触控电极提供测试信号;第二测试信号源,用于为所述偶型触控电极提供测试信号;开关信号源,用于为所述第一测试信号源与第二测试信号源提供开关信号;多个第一薄膜晶体管,根据所述开关信号源上的开关信号,将所述第一测试信号源上的测试信号输出至相对应的所述奇型触控电极上;多个第二薄膜晶体管,根据所述开关信号源上的开关信号,将所述第二测试信号源上的测试信号输出至相对应的所述偶型触控电极上。
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