[发明专利]一种内存性能测试方法及装置在审
| 申请号： | 201610607521.2 | 申请日： | 2016-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN106294053A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 徐伟超 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人： | 李世喆 |
| 地址： | 250100 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种内存性能测试方法及装置，其中，所述方法包括：S1：获取内存性能测试源文件以及包括N个测试指令的指令集，其中，N为不小于1的整数；S2：编译所述内存性能测试源文件；S3：根据所述指令集运行N个测试线程，其中，所述N个测试线程与所述指令集中的N个测试指令一一对应；S4：根据编译后的所述内存性能测试源文件，对目标内存在N个测试线程下的性能进行测试。本发明提供的内存性能测试方法及装置，适用性较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种内存性能测试方法，其特征在于，包括：获取内存性能测试源文件以及包括N个测试指令的指令集，其中，N为不小于1的整数；编译所述内存性能测试源文件；根据所述指令集运行N个测试线程，其中，所述N个测试线程与所述指令集中的N个测试指令一一对应；根据编译后的所述内存性能测试源文件，对目标内存在N个测试线程下的性能进行测试。
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