[发明专利]基于FPGA的LTE TDD RRU峰均比统计方法有效
| 申请号: | 201610605779.9 | 申请日: | 2016-07-28 |
| 公开(公告)号: | CN106230763B | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
| 发明(设计)人: | 李昌元;赵雨;徐鹏;周博海;王艳欢;周世军;杨浩 | 申请(专利权)人: | 武汉邮电科学研究院有限公司 |
| 主分类号: | H04L27/26 | 分类号: | H04L27/26;H04B17/10;H04B17/26 |
| 代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 严彦 |
| 地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本发明提供一种基于FPGA的LTE TDD RRU峰均比统计方法,在射频拉远单元中,CPU配置TDD时隙信息,FPGA检测帧头信号;检测当前的TDD帧信号中最大的PAR值PAR_max,包括通过统计出当前时刻之前10000个数据的最大功率C和当前时刻之前10000个数据的功率总和D,逐个检测当前的TDD帧信号中每个时刻的PAR值;CPU从FPGA中取出PAR_max值,并转化得到当前的TDD帧信号的峰均比值。应用本发明技术方案可以不借助频谱仪就能同时计算出进功放之前或者小信号输出的PAR值,并且不受带宽的限制,操作简单方便灵活;采用FPGA逻辑实现峰均比统计,速度快、效率高。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 fpga ltetddrru 统计 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于FPGA的LTE TDD RRU峰均比统计方法,所述RRU为射频拉远单元,射频拉远单元中包括CPU和FPGA,其特征在于,在射频拉远单元中执行以下步骤,步骤1,CPU配置TDD时隙信息,步骤2,FPGA检测帧头信号,确定当前的TDD帧信号开始时刻,检测到帧头信号后FPGA内部计数器模块会由0开始逐渐增加计数;所述TDD帧信号的时长为10ms;步骤3,检测当前的TDD帧信号中最大的PAR值,包括将第1个0.01%概率下的PAR值记为变量flag,第2个PAR值同这个flag值做比较,如果大于flag值,则flag值被第2个PAR值取代,如果不大于flag值,则原flag继续保持,如此方式逐个检测PAR值,最终得到10ms中最大的PAR值,记为PAR_max,PAR表示峰均比;检测当前的TDD帧信号中每个时刻的PAR值,实现方式如下,步骤3.1,FPGA根据步骤1时隙配比信息和步骤2中产生的计数器生成下行指示信号En,当前时刻信号处于下行时隙时En为1,否则为0;步骤3.2,FPGA统计出当前时刻之前10000个数据的最大功率C和当前时刻之前10000个数据的功率总和D,所述功率总和D统计方式如下,累加功率用B表示,当FPGA检测到En=1时,进行功率累加,En=0时不进行累加;将累加功率B延时10000个时钟周期,记为A;功率总和D=B‑A;步骤3.3,FPGA计算PAR=C/(D/10000),即为当前数据至前面9999个数据的峰均比值,也是当前数据在0.01%概率下的峰均比值;步骤4,CPU从FPGA中取出PAR_max值,并转化为db单位的数据,转换公式为PAR_db=20×log10(PAR_max),得到当前的TDD帧信号的峰均比值;返回步骤2,针对下一TDD帧信号进行相应处理。
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