[发明专利]颗粒形态的光学检测方法及系统在审
| 申请号： | 201610590730.0 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106248532A | 公开（公告）日： | 2016-12-21 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;李培;周丽萍;丁志华 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒形态的光学检测方法及系统。检测是包括对颗粒样品进行分散，结合低相干干涉测量方法和显微成像方法获得颗粒在三维空间的位置信息，提取分析颗粒的形态信息的步骤；利用所述低相干干涉测量方法确定分散后的颗粒在沿光轴方向的分布位置，利用显微成像方法获取分散后的颗粒在垂直于光轴的平面的分布位置；系统包括一颗粒分散装置、低相干干涉测量和显微成像相结合的成像测量装置和处理器。本发明操作简单有效，能够提供颗粒三维空间的分布位置信息，避免基于图像显微的粒度测量中不同深度的颗粒在两维图像中重叠效应，极大地减小了颗粒的测量误差，可用于工业生产和科学研究中对颗粒形态的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 形态 光学 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种颗粒形态的光学检测方法，包括：对颗粒样品进行分散；结合低相干干涉测量方法和显微成像方法获得颗粒在三维空间的位置信息；提取分析颗粒的形态信息。
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