[发明专利]用于对三维表面的图像进行重建的方法、装置和系统在审
| 申请号： | 201610590192.5 | 申请日： | 2016-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN107657653A | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 张丽;王森;陈志强;邢宇翔;金鑫 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T15/04 | 分类号： | G06T15/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 周泉 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于对三维表面的图像进行重建的方法、装置和系统。所述方法包括利用对所述三维表面进行X光成像的X光成像数据，构建所述三维表面的三维模型，并提取特征点的三维坐标参数；利用对所述三维表面进行可见光成像的可见光成像数据，构建所述三维表面的一个或多个二维姿态图像，并从每个二维姿态图像提取特征点的二维坐标参数；通过对每个二维姿态图像中的特征点的三维坐标参数与二维坐标参数进行匹配，建立所述二维姿态图像与所述三维模型之间的映射关系；以及利用针对每个二维姿态图像分别建立的映射关系，将所述一个或多个二维姿态图像填充到所述三维模型上，形成重建的三维表面图像，其中，所述三维表面的相同方位的X光成像数据和可见光成像数据是同步捕获的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 三维 表面 图像 进行 重建 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种用于对三维表面的图像进行重建的方法，包括：a1)利用对所述三维表面进行X光成像的X光成像数据，构建所述三维表面的三维模型，并提取特征点的三维坐标参数；a2)利用对所述三维表面进行可见光成像的可见光成像数据，构建所述三维表面的一个或多个二维姿态图像，并从每个二维姿态图像提取特征点的二维坐标参数；b)通过对每个二维姿态图像中的特征点的三维坐标参数与二维坐标参数进行匹配，建立所述二维姿态图像与所述三维模型之间的映射关系；以及c)利用针对每个二维姿态图像分别建立的映射关系，将所述一个或多个二维姿态图像填充到所述三维模型上，形成重建的三维表面图像，其中，所述三维表面的相同方位的X光成像数据和可见光成像数据是同步捕获的。
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