[发明专利]一种寄存器读写的测试方法和装置在审
| 申请号： | 201610586026.8 | 申请日： | 2016-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN106294052A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 梅张雄;郭涛 | 申请（专利权）人： | 北京联盛德微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100044 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种寄存器读写的测试方法，通过Perl脚本提取输入文件中与寄存器的读写特性相关的信息，所述输入文件包括Excel格式文件；根据所述与寄存器的读写特性相关的信息生成输出文件，所述输出文件包括.h文件和C代码文件；调用所述输出文件，判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同，并且在所述判断结果为否时，将所述寄存器的读写判断为存在错误，能够自动且高效的测试寄存器的读写性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 寄存器 读写 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种寄存器读写的测试方法，其特征在于，包括：通过Perl脚本提取输入文件中与寄存器的读写特性相关的信息，所述输入文件包括Excel格式文件；根据所述与寄存器的读写特性相关的信息生成输出文件，所述输出文件包括.h文件和C代码文件；调用所述输出文件，判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同，并且在所述判断结果为否时，将所述寄存器的读写判断为存在错误。
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