[发明专利]一种高效检测静态随机存取存储器耦合故障的系统及方法在审
| 申请号： | 201610579633.1 | 申请日： | 2016-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN106205738A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 李正平;方凌文 | 申请（专利权）人： | 安徽大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 董芙蓉 |
| 地址： | 230601 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高效检测静态随机存取存储器(SRAM)耦合故障的方法，包括：BIST检测电路和March CCD检测算法。BIST检测电路采用复杂度为13N(N为存储器存储单元数)的March检测序列实现对存在耦合故障存储单元的高效检测，引入复杂度为2F(F为存在耦合故障的存储器单元数)的条件检测单元实现对耦合故障类型的确定。与现有检测方法对比，具有更好的检测效率和故障覆盖率，有利于降低大批量SRAM存储器的检测成本和检测时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高效 检测 静态 随机存取存储器 耦合 故障 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种高效检测静态随机存取存储器耦合故障的方法，其特征在于，所述高效检测静态随机存取存储器耦合故障的方法采用故障检测March CCD算法；所述故障检测March CCD算法采用时间复杂度为13N+2F的检测序列，N为存储器单元数，F为存在耦合故障的存储器单元数，检测现已发现的所有种类SRAM耦合存储故障，并确定具体故障类型。
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