[发明专利]用于控制辐照系统的方法和装置及用于制作工件的设备有效
| 申请号： | 201610575789.2 | 申请日： | 2016-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN106363768B | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 安德里亚斯·维斯纳;迪特尔·施瓦策;托尼·亚当·克罗尔 | 申请（专利权）人： | SLM方案集团股份公司 |
| 主分类号： | B28B1/00 | 分类号： | B28B1/00;B22F3/105;B33Y50/02;B33Y30/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 李丙林;曹桓 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提供用于控制辐照系统的方法和装置及用于制作工件的设备。在用于对在用于制作三维工件(28)的设备(10)中使用的辐照系统(20)进行控制的方法中，在承载器(15)的表面上限定第一和第二辐照区域(18a、18b)及布置在第一和第二辐照区域(18a、18b)之间的重叠区域(19)，承载器适于接收待由辐照系统(20)发射的电磁或粒子辐射辐照的原料粉末层(30、32)。将辐照系统(20)的第一辐照单元(22a)分配给第一辐照区域(18a)和重叠区域(19)，将辐照系统(20)的第二辐照单元(22b)分配给第二辐照区域(18b)和重叠区域(19)。依赖于待制作的三维工件(28)的几何形状限定第一辐照区域(18a)、第二辐照区域(18b)和重叠区域(19)中的至少一个。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 控制 辐照 系统 方法 装置 制作 工件 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于对在用于制作三维工件(28)的设备(10)中使用的辐照系统(20)进行控制的方法，该方法包括以下步骤：‑在承载器(15)的表面上限定第一和第二辐照区域(18a、18b)以及布置在所述第一和第二辐照区域(18a、18b)之间的重叠区域(19)，所述承载器适于接收待由所述辐照系统(20)发射的电磁或粒子辐射进行辐照的原料粉末层(30、32)；‑将所述辐照系统(20)的第一辐照单元(22a)分配给所述第一辐照区域(18a)和所述重叠区域(19)，使得能够利用由所述第一辐照单元(22a)发射的电磁或粒子辐射来辐照所述第一辐照区域(18a)和所述重叠区域(19)，‑将所述辐照系统(20)的第二辐照单元(22b)分配给所述第二辐照区域(18b)和所述重叠区域(19)，使得能够利用由所述第二辐照单元(22b)发射的电磁或粒子辐射来辐照所述第二辐照区域(18b)和所述重叠区域(19)，其中，所述第一辐照区域(18a)、所述第二辐照区域(18b)和所述重叠区域(19)中的至少一个是依赖于待制作的所述三维工件(28)的几何形状限定的。
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