[发明专利]一种断层伴生裂缝发育程度的确定方法和装置

摘要

本发明提供了一种断层伴生裂缝发育程度的确定方法和装置，其中，该方法包括：获取工区内断层的法向应力和切向应力；按照预设的要求将断层网格化划分为多个体元，根据法向应力和切向应力，计算多个体元中各个节点的最小主应力和最大主应力；根据各个节点的最小主应力和最大主应力，计算多个体元中各个节点的断层伴生裂缝发育的密度势；根据多个体元中各个节点的断层伴生裂缝发育的密度势，判断断层的伴生裂缝发育程度。在本发明实施例中，根据各个节点的断层伴生裂缝发育的密度势，判断断层伴生裂缝发育程度，解决了断层伴生裂缝发育程度的确定精度较低的问题，为断层伴生裂缝发育程度的预测提供定量的方法，提高了油气勘探开发的效率。

主权项

1.一种断层伴生裂缝发育程度的确定方法，其特征在于，包括：根据断层的产生条件以及地应力环境，获取工区内断层的法向应力和切向应力；按照预设的要求将所述断层网格化划分为多个体元，根据所述法向应力和切向应力，计算所述多个体元中各个节点的最小主应力和最大主应力；根据所述多个体元中各个节点的最小主应力和最大主应力，计算所述多个体元中各个节点的断层伴生裂缝发育的密度势；根据所述多个体元中各个节点的断层伴生裂缝发育的密度势，判断所述断层的伴生裂缝发育程度；其中，按照以下公式计算所述多个体元中各个节点的断层伴生裂缝发育的密度势：Ψ＝lg[(σ₁‑σ₃)²‑8σ_t(σ₁+σ₃)]其中，Ψ表示所述断层伴生裂缝发育的密度势，σ₁表示所述断层的周边地层所受的最大主应力，σ₃表示所述断层的周边地层所受的最小主应力，σ_t表示所述断层的周边地层的抗拉强度。