[发明专利]触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法在审
| 申请号： | 201610561753.9 | 申请日： | 2016-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN106199272A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 韩新斌 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 汪源;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种触摸笔、触摸测试装置和触摸测试方法，其中该触摸笔包括：触摸柱和套置于触摸柱之外且层层依次套置的若干个辅助触摸结构，触摸柱具有一用于与触摸屏接触的第一接触底面，辅助触摸结构包括：围壁，围壁具有一用于与触摸屏接触的第二接触底面；触摸柱的侧面与位于最内侧的辅助触摸结构的围壁贴合，任意相邻的两个辅助触摸结构的围壁贴合；辅助触摸结构能够沿触摸柱的中心轴所指向的方向进行运动，且使得对应的围壁的第二接触底面运动至与触摸柱的第一接触底面齐平的位置。本发明的技术方案可有效降低触摸性能测试成本，以及缩短测试周期。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种触摸笔，其特征在于，包括：触摸柱和套置于所述触摸柱之外且层层依次套置的若干个辅助触摸结构，所述触摸柱具有一用于与触摸屏接触的第一接触底面，所述辅助触摸结构包括：围壁，所述围壁具有用于与触摸屏接触的第二接触底面；所述触摸柱的侧面与位于最内侧的所述辅助触摸结构的所述围壁贴合，任意相邻的两个所述辅助触摸结构的所述围壁贴合；所述辅助触摸结构能够沿所述触摸柱的中心轴所指向的方向进行运动，且使得对应的所述围壁的所述第二接触底面运动至与所述触摸柱的所述第一接触底面齐平的位置。
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