[发明专利]能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统在审
| 申请号： | 201610540742.2 | 申请日： | 2016-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN106124897A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 黄雨新;兰才伦;李彦良;胡伟;周本军;蒋东新 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人： | 侯懋琪;侯春乐 |
| 地址： | 400060 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统，由PC机、测试通道选通模块、多个老炼电路、多个参数检测电路和光电耦合器插接板组成；本发明的有益技术效果是：提供了一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统，该测试系统能够简化测试操作，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 耦合器 进行 电老炼 试验 参数 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统，其特征在于：所述测试系统由PC机（PC）、测试通道选通模块（1）、多个老炼电路（2）、多个参数检测电路（3）和光电耦合器插接板（4）组成；所述光电耦合器插接板（4）上设置有多个插口，所述插口用于插接待测光电耦合器；老炼电路（2）的数量与插口数量匹配，参数检测电路（3）的数量与老炼电路（2）的数量相同；PC机（PC）与测试通道选通模块（1）连接，测试通道选通模块（1）分别与多个插口、多个老炼电路（2）和多个参数检测电路（3）连接；测试通道选通模块（1）能将插口选通至老炼电路（2）或参数检测电路（3），各个插口的选通操作相互独立，互不干涉；PC机（PC）能通过软件界面控制测试通道选通模块（1）的动作；当某一插口与某一老炼电路（2）选通时，老炼电路（2）能对插接在插口上的待测光电耦合器进行电老炼试验，试验过程中，PC机能通过测试通道选通模块（1）实时提取到待测光电耦合器的运行数据；当某一插口与某一参数检测电路（3）选通时，参数检测电路（3）能对插接在插口上的待测光电耦合器进行参数测试，测试过程中，PC机（PC）能通过测试通道选通模块（1）实时提取到待测光电耦合器的检测数据。
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