[发明专利]颗粒传感器设备有效
| 申请号： | 201610537200.X | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN106066294B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | N·迪特里希;F·菲舍尔;R·施尼策尔;J·黑尔米格;G·皮拉德;A·V·D·李 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司;通快光电器件有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02;G01N15/10 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 郭毅 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及颗粒传感器设备，具有：光学发射装置，所述光学发射装置设计用于发射光学辐射，使得能够至少部分地照射可能具有至少一个颗粒的容积；光学探测装置，所述光学探测装置具有至少一个探测面，在所述至少一个颗粒上散射的光学辐射的至少一部分入射到所述至少一个探测面上，其中，能够输出关于入射到所述至少一个探测面上的光学辐射的强度和/或强度分布的至少一个信息信号；分析处理装置，借助所述分析处理装置能够确定和输出关于颗粒的存在、颗粒数量、颗粒密度和/或颗粒的至少一个特性的信息；所述颗粒传感器设备还包括至少一个透镜元件，所述至少一个透镜元件布置为使得所发射的光学辐射能够聚焦到所述容积内的聚焦区域上。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 传感器 设备 | ||
【主权项】：
一种颗粒传感器设备，具有：光学发射装置(50a)，所述光学发射装置被设计用于发射处于该光学发射装置(50a)的发射谱内的光学辐射(52)，从而使得能够通过所发射的光学辐射(52)至少部分地照射设备外或设备内的具有可能存在于其中的至少一个颗粒(56)的容积(54)；光学探测装置(50b)，所述光学探测装置具有至少一个探测面(64)，其中，所述至少一个探测面(64)布置为使得由所述光学发射装置(50a)发射的并且至少部分地在所述至少一个颗粒(56)上散射的光学辐射(62)的至少一部分入射到所述至少一个探测面(64)上，其中，所述光学探测装置(50b)设计用于输出关于入射到所述至少一个探测面(64)上的所述光学辐射(62)的强度和/或强度分布的至少一个信息信号(68)；分析处理装置(70)，借助所述分析处理装置在考虑所述至少一个信息信号(68)的情况下能够确定和输出关于颗粒(56)的存在、颗粒数量、颗粒密度和/或颗粒(56)的至少一个特性方面的信息(72)；其特征在于，设置至少一个透镜元件(58)，所述至少一个透镜元件被布置为使得所发射的光学辐射(52)能够借助所述至少一个透镜元件(58)聚焦到所述容积(54)内的聚焦区域(60)上。
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