[发明专利]一种降低高浓度镉污染下水稻籽粒镉含量的施硅方法在审

专利信息
申请号: 201610503088.8 申请日: 2016-06-28
公开(公告)号: CN106105926A 公开(公告)日: 2016-11-16
发明(设计)人: 蔡一霞;张世浩;蔡昆争;黄飞 申请(专利权)人: 华南农业大学
主分类号: A01G16/00 分类号: A01G16/00;A01G7/06
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 裘晖
地址: 510642 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种降低高浓度镉污染下水稻籽粒镉含量的施硅方法,属于农产品重金属污染防治技术领域。通过本发明的方法施用硅,在高浓度镉污染土壤中(土壤镉浓度为60mg/kg),于水稻生长的拔节期一次施用163kg/hm2可溶性硅酸盐(以有效成分SiO2计),其施用效果与不施硅(对照)相比,精米中镉浓度大幅度降低,降幅达40.9%,拔节期施硅效果显著高于移栽期、分蘖期、抽穗期的施硅效果,而且水稻产量也有明显地提高,提高幅度达10.5%。本发明的在高浓度镉污染下水稻施硅方法(主要指施硅时期),不仅具有科学性,而且具有生产的可操作性。
搜索关键词: 一种 降低 浓度 污染 水稻 籽粒 含量 方法
【主权项】:
一种降低高浓度镉污染下水稻籽粒镉含量的施硅方法,其特征在于包括如下步骤:在高浓度镉污染稻田中,于拔节期一次施用可溶性硅酸盐。
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