[发明专利]一种用于显微镜下精确定位的平移台在审
申请号: | 201610482319.1 | 申请日: | 2016-06-28 |
公开(公告)号: | CN105929527A | 公开(公告)日: | 2016-09-07 |
发明(设计)人: | 黄书宇;邱俊 | 申请(专利权)人: | 南京安京太赫光电技术有限公司 |
主分类号: | G02B21/26 | 分类号: | G02B21/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211300 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明设计了一种用于显微镜下精确定位的平移台,适用于二维材料定点转移过程。在平移台上增加标记,从而在不对基底有任何操作的前提下给基底上的任一位置做标记。通过基底与平移台的相对位置和样品相对基底的位置,就能确定基底上某一位置的样品相对于平移台的相对位置,从而达到对基底上某一位置的标记作用。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 显微镜 精确 定位 平移 | ||
【主权项】:
一种用于显微镜下精确定位的平移台,其特征在于:在平移台的表面和侧面各有平移台表面标尺和平移台轴向标尺一组,以便于在显微镜下确定样品的具体位置。
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