[发明专利]一种功率器件的失效定位方法在审
申请号: | 201610470513.8 | 申请日: | 2016-06-24 |
公开(公告)号: | CN107544014A | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | 沈立;程玉华 | 申请(专利权)人: | 上海北京大学微电子研究院 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/02;G01J5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及功率器件的失效分析技术领域,是一种功率器件的失效定位方法。漏电流增大是功率器件失效的主要电学表现形式之一,会大幅度减小器件的使用寿命。本发明提供了一种功率器件的漏电流定位方法。方法包括对失效功率器件样本进行开封;将开封后的功率器件置于载物台上;固定并调节红外热成像仪,使其显示屏刚好容纳芯片;对功率器件进行电压偏置,找到热点最清晰的偏置电压;对功率器件施加恒定的上述偏置电压,获取该偏置电压下的芯片表面热像图;将上述热像图与芯片物理结构图叠加处理,以准确定位异常漏电流。该方法实施便捷,能精确捕捉热点以及定位失效位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 器件 失效 定位 方法 | ||
【主权项】:
一种功率器件的失效定位方法,其特征在于,包括:对失效功率器件样本进行开封;将开封后的功率器件置于载物台上;固定并调节红外热成像仪,使其显示屏刚好容纳芯片;对功率器件进行电压偏置,找到热点最清晰的偏置电压;对功率器件施加恒定的上述偏置电压,获取该偏置电压下的芯片表面热像图;将上述热像图与芯片物理结构图叠加处理,以准确定位异常漏电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海北京大学微电子研究院,未经上海北京大学微电子研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610470513.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:AEC‑Q100复合应力测试机
- 下一篇:自动化针床