[发明专利]频率测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610466617.1 申请日: 2016-06-22
公开(公告)号: CN106199179A 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 何颖 申请(专利权)人: 何颖
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 张清彦
地址: 510000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种芯片频率的测试装置,属于电学领域,该装置包括频率获取单元、频率处理单元和控制单元,控制单元控制频率获取单元接收待测频率信号,频率获取单元发送待测频率信号至频率处理单元,频率处理单元将待测频率信号进行格式转换为外部自动检测仪器支持的数字频率信号,频率处理单元将数字频率信号发送至控制单元,控制单元将接收到的数字频率信号输出。本发明的待测频率信号以数字频率信号输出,可直观了解频率的数值,并且通过频率处理单元将待测频率信号转换为自动检测仪可识别的信号后,可通过与自动检测仪连接实现自动检测频率,减少人为的介入,提高可靠性。本发明还公开了一种频率测试方法,可提高频率测试结果的准确性。
搜索关键词: 频率 测试 装置 方法
【主权项】:
一种频率测试装置,其特征在于,包括频率获取单元(1)、频率处理单元(2)和控制单元(3),所述控制单元(3)控制所述频率获取单元(1)接收待测频率信号,所述频率获取单元(1)发送待测频率信号至所述频率处理单元(2),所述频率处理单元(2)将待测频率信号进行格式转换为外部自动检测仪器支持的数字频率信号,所述频率处理单元(2)将数字频率信号发送至所述控制单元(3),所述控制单元(3)将接收到的数字频率信号输出。
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