[发明专利]测试装置和方法在审

专利信息
申请号: 201610460752.5 申请日: 2016-06-22
公开(公告)号: CN107525980A 公开(公告)日: 2017-12-29
发明(设计)人: 陈殿河;林首杰;陈哲民 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司72003 代理人: 郑泰强,李昕巍
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了一种测试装置和方法。上述测试装置包括第一连接接口、储存装置、处理器以及第二连接接口。第一连接接口耦接至待测装置,以及根据第一指令,从待测装置取得电源信息。储存装置用以储存上述电源信息。处理器耦接至第一连接接口,当第一连接接口耦接至待测装置时,传送第一指令至第一连接接口,以及从第一连接接口接收电源信息,并将电源信息储存在储存装置中。第二连接接口耦接至外部控制系统,传送电源信息至外部控制系统,以及从外部控制系统接收测试指令,以测试待测装置。本发明可以通过串行的通信(serial communication)来测试待测装置所支援的不同组电压和电流值,以实现USB Type‑C PD的自动化测试。
搜索关键词: 测试 装置 方法
【主权项】:
一种测试装置,包括:一第一连接接口,耦接至一待测装置,以及根据一第一指令,从上述待测装置取得一电源信息;一储存装置,储存上述电源信息;一处理器,耦接至上述第一连接接口和上述储存装置,当上述第一连接接口耦接至上述待测装置时,传送上述第一指令至上述第一连接接口,以及从上述第一连接接口接收上述电源信息,并将上述电源信息储存在上述储存装置中;以及;一第二连接接口,耦接至一外部控制系统,传送上述电源信息至上述外部控制系统,以及从上述外部控制系统接收一测试指令,以测试上述待测装置。
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