[发明专利]一种应用于集成电路的测试探针卡

摘要

本发明公开了一种应用于集成电路的测试探针卡，包括探针座和检测电路板，探针座上成型有探针孔，探针孔内插接有探针，探针包括中部的止挡部，止挡部的上端面检测杆，检测杆的上端露出探针座的上端面，其特征在于：止挡部的下端面成型有竖直的外螺纹套，外螺纹套的内孔内插接有倒置的T型导向杆，T型导向杆上插套有下永磁套，外螺纹套上插套有上永磁套,上永磁套下端面的磁极和下永磁套上端面的磁极相同，T型导向杆内插接固定有导电体，导电体由圆柱形的碳刷头和碳刷柱组成，碳刷头抵靠在外螺纹套的内孔壁上，碳刷柱的下端露出T型导向杆的下端面抵靠在检测电路板上。它结构简单，组装方便，能避免因弹簧机械疲劳失效而造成的接触不良。

主权项

1.一种应用于集成电路的测试探针卡，包括探针座(1)和检测电路板(7)，探针座(1)上成型有探针孔(11)，探针孔(11)内插接有探针(2)，探针(2)包括中部的止挡部(21)，止挡部(21)的上端面成型有检测杆(22)，检测杆(22)的上端露出探针座(1)的上端面，其特征在于：止挡部(21)的下端面成型有竖直的外螺纹套(23)，外螺纹套(23)的内孔内插接有倒置的T型导向杆(4)，T型导向杆(4)上插套有下永磁套(5)，下永磁套(5)抵靠在T型导向杆(4)的下端，所述的外螺纹套(23)上插套有上永磁套(3),上永磁套(3)下端面的磁极和下永磁套(5)上端面的磁极相同，所述的T型导向杆(4)内插接固定有导电体(6)，导电体(6)由圆柱形的碳刷头(61)和碳刷柱(62)组成，碳刷头(61)抵靠在外螺纹套(23)的内孔壁上，碳刷柱(62)的下端露出T型导向杆(4)的下端面并 抵靠在检测电路板(7)上；所述上永磁套(3)螺接固定在探针(2)的外螺纹套(23)上，T型导向杆(4)下端的外壁上成型有外螺纹，下永磁套(5)螺接固定在T型导向杆(4)上；所述探针(2)止挡部(21)的底面上成型有与外螺纹套(23)内孔相连通的底部沉孔(211)，底部沉孔(211)的孔径和外螺纹套(23)的孔径相同，底部沉孔(211)的中心轴线和外螺纹套(23)的中心轴线在同一直线上。