[发明专利]一种晶体测试装置在审
| 申请号： | 201610450241.5 | 申请日： | 2016-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN105938202A | 公开（公告）日： | 2016-09-14 |
| 发明（设计）人： | 彭志豪;陈远帆;吴承;陈冠廷 | 申请（专利权）人： | 苏州晶特晶体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人： | 徐萍 |
| 地址： | 215400 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体测试装置，包括：光源、升降装置、隔光板、检测电路板和硅油槽，所述升降装置设置在硅油槽一侧，所述隔光板位于硅油槽的上方，所述光源位于隔光板的上方，所述升降装置的输出端设置有与隔光板相连接的支撑杆，所述隔光板上设置有数个晶体固定孔，闪烁晶体条分别设置在晶体固定孔下部，所述检测电路板上设置有分别位于晶体固定孔下方的SiPM硅探测器。通过上述方式，本发明所述的晶体测试装置，把多个闪烁晶体条分别放置在隔光板内进行同时测试，工作效率高，SiPM硅探测器顶面与闪烁晶体条底面的间隙中填充有硅油，减少了误差，提升了测试的精度，操作灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体测试装置，用于闪烁晶体条的检测，其特征在于，包括：光源、升降装置、隔光板、检测电路板和硅油槽，所述硅油槽内设置有支撑架，所述检测电路板设置在支撑架上，所述升降装置设置在硅油槽一侧，所述隔光板位于硅油槽的上方，所述光源位于隔光板的上方，所述升降装置的输出端设置有与隔光板相连接的支撑杆，所述隔光板上设置有数个晶体固定孔，闪烁晶体条分别设置在晶体固定孔下部，所述检测电路板上设置有分别位于晶体固定孔下方的SiPM硅探测器。
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