[发明专利]一种晶面诱导构筑Si/TiO2 在审
申请号: | 201610415878.0 | 申请日: | 2016-06-14 |
公开(公告)号: | CN106086921A | 公开(公告)日: | 2016-11-09 |
发明(设计)人: | 高立国;李群;马廷丽 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | C25B1/04 | 分类号: | C25B1/04;C25B11/04 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 梅洪玉;潘迅 |
地址: | 124221 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: |
针对现有技术中Si作为光解水阳极材料易被腐蚀的问题,本发明提供一种晶面诱导构筑Si/TiO |
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搜索关键词: | 一种 诱导 构筑 si tio base sub | ||
【主权项】:
1.一种晶面诱导构筑Si/TiO2 复合光阳极的制备方法,其特征在于,步骤如下:第一步,制备Si基底1)将Si片依次用丙酮、氯仿、无水乙醇、去离子水进行超声处理,氮气吹干;2)将步骤1)得到的Si片放入双氧水、氨水和去离子水的混合溶液中,在70~90℃温度下处理30~60min,超声处理后,放入5~10wt%的HF酸溶液中浸泡5~10min,除去Si片表面的氧化层,得到Si基底;所述的双氧水、氨水和去离子水的体积比为1~3:1:5;第二步,Si基底表面制备Si/TiO2 异质界面连接层将第一步步骤2)得到的Si基底放入无水乙醇中超声处理,防止被再次氧化;常温下,将超声处理后的Si基底放入提拉试剂中进行提拉处理2~10min;将提拉处理后的Si基底放入去离子水中超声处理,再用无水乙醇去除Si基底表面的去离子水;重复第二步6~16次后得到Si/TiO2 异质界面连接层;所述的提拉试剂为TiCl4 、TiOSO4 、钛酸四丁酯、二氯氧钛、钛酸异丙酯或钛酸乙醇酯;第三步,Si基底表面制备TiO2 薄膜保护层将第二步得到Si基底放入装有钛酸四丁酯、冰乙酸和去离子水的混合溶液的反应釜中,在130℃~150℃温度下水热反应8~12h后,Si基底表面形成TiO2 薄膜保护层;所述的混合溶液中钛酸四丁酯、冰乙酸和去离子水的体积比为0.15~0.3:15:0.1~0.3;第四步,制备Si/TiO2 复合光阳极N2 保护下,将第三步得到的Si基底在管式炉中进行退火处理得到Si/TiO2 复合光阳极。
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