[发明专利]粒子检测装置有效
| 申请号： | 201610405269.7 | 申请日： | 2016-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN106353239B | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 田原雅哉;武田直希;小泉和裕;平山纪友 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N15/06;G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种不失去单一粒子中的散射光与白炽光的同一性、并且不会过大评价粒子数的粒子检测装置。构成本发明的粒子检测装置的信号处理部(105)的特征在于，具有：第一峰值保持电路(3)，其保持从散射光检测部(1)获取到的散射光强度的峰值；第二峰值保持电路(4)，其保持从白炽光检测部(2)获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路(7)，其将来自第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在信号值超过阈值时向第二峰值保持电路发送复位信号。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种粒子检测装置，检测来自粒子的散射光和白炽光，该粒子检测装置的特征在于，具备：散射光检测部，其通过激光照射来检测所述粒子的散射光强度；白炽光检测部，其通过所述激光照射来检测所述粒子的白炽光强度；以及信号处理部，其对从所述散射光检测部和所述白炽光检测部获取到的信号进行处理，其中，所述信号处理部具有：第一峰值保持电路，其保持从所述散射光检测部获取到的散射光强度的峰值；第二峰值保持电路，其保持从所述白炽光检测部获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路，其将来自所述第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在所述信号值超过所述阈值时向所述第二峰值保持电路发送复位信号。
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