[发明专利]测试参数处理方法、装置及测试器在审
| 申请号： | 201610397901.8 | 申请日： | 2016-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN107483105A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 柏煜轩 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 江舟,董文倩 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试参数处理方法、装置及测试器，该方法包括确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。通过本发明，解决了相关技术中测试系统存在的对测试人员有较高的专业要求的问题，进而达到了降低对测试人员的专业要求的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 参数 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试参数处理方法，其特征在于，包括：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。
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