[发明专利]一种地物光谱剖面测量方法在审
| 申请号： | 201610385016.8 | 申请日： | 2016-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN107463716A | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | 宋扬;吴礼福 | 申请（专利权）人： | 宋扬 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于数字填图领域，具体公开一种地物光谱剖面测量方法，该方法包括如下步骤步骤1，在计算机上配置时间间隔控制器；步骤2，对ASD光谱仪进行优化和白板校准；步骤3，将GPS模块固定在ASD光谱仪上；步骤4，启动步骤1中所述的时间间隔控制器和步骤3中所述的GPS模块；步骤5，沿指定路线移动步骤3中固定有GPS模块的ASD光谱仪；步骤6，关闭步骤1所述的时间间隔控制器和步骤3所述的GPS模块；步骤7，按记录时刻匹配光谱文件和GPS坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 地物 光谱 剖面 测量方法 | ||
【主权项】：
一种地物光谱剖面测量方法，其特征包括如下步骤：步骤1，在计算机上配置时间间隔控制器；步骤2，对ASD光谱仪进行优化和白板校准；步骤3，将GPS模块固定在所述步骤2中的ASD光谱仪上；步骤4，启动所述步骤1中的时间间隔控制器和所述步骤3中的GPS模块；步骤5，沿指定路线移动所述步骤3中固定有GPS模块的ASD光谱仪；步骤6，关闭所述步骤1中的时间间隔控制器和所述步骤3中的GPS模块；步骤7，按记录时刻匹配光谱文件和坐标文件。
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