[发明专利]基于双平面定基准的大型旋臂弯沉量检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610365519.9 申请日: 2016-05-27
公开(公告)号: CN106091903B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 林昭珩;杨伟;吴时彬;张海妮;曹学东;艾勇 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01B5/30 分类号: G01B5/30;G01B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种基于双平面定基准的大型旋臂弯沉量检测方法及装置,其精密轴系固定在平台上,旋臂依靠法兰盘固定在精密轴系上;第一平面镜与第二平面镜分别安装在两个四维调整架上,再分别安装在旋臂的中心和边缘两个位置;自准直仪安装在二维平移台上,放置在第一平面镜正前方;对准基片套在第一平面镜的圆周处,十字与小孔标识与第一平面镜的镜面平行。精密轴系带动旋臂及两块平面镜一起做匀速圆周运动,自准直仪发出的激光经两块平面镜反射形成自准直光路,实现对旋臂弯沉量的测试。本发明装置搭建简单、检测基准有效并准确传递、稳定性好。
搜索关键词: 基于 平面 基准 大型 臂弯 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于双平面定基准的大型旋臂弯沉量检测装置,其特征在于:包括精密轴系(1)、旋臂(2)、四维调整架(3)、第一平面镜(4)、百分表(5)、对准基片(6)、自准直仪(7)、二维平移台(8)和第二平面镜(9),其中:精密轴系(1)固定在平台上,旋臂(2)依靠法兰盘(2‑1)固定在精密轴系(1)上,精密轴系(1)带动旋臂(2)一起以角速度为ω做匀速圆周运动,第一平面镜(4)与第二平面镜(9)分别安装在两个四维调整架(3)上,再分别安装在旋臂(2)的旋转中心和边缘两个位置;自准直仪(7)安装在二维平移台(8)上,放置在第一平面镜(4)正前方;对准基片(6)套在第一平面镜(4)的圆周处,对准基片十字与小孔标识与第一平面镜(4)的镜面平行。
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