[发明专利]钻石发光光谱的快速检测方法及其检测装置在审
| 申请号： | 201610356448.6 | 申请日： | 2016-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN105866074A | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 兰延;陆太进;张丛森;丁汀;毕应君 | 申请（专利权）人： | 国土资源部珠宝玉石首饰管理中心深圳珠宝研究所 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 周松强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种钻石发光光谱的快速检测方法及其检测装置，该方法包括以下步骤：用波长405nm的激光辐照钻石样品表面；激光照射在钻石样品表面的晶格缺陷的特征后产生光致发光现象并形成光谱；该光谱通过光纤机构被光谱仪接收并传输给电脑显示屏；该电脑显示屏根据钻石样品的不同特征显示相应晶格缺陷的峰位特征光谱图；根据光谱图的峰位特征，由此确定钻石是天然或合成的；当光谱位置的峰位在415nm处和741nm处，则可认为钻石为天然钻石；若光谱位置的峰位在737nm处，且无415nm峰位，则可认为钻石为化学气相沉淀法合成钻石；若光谱位置的峰位在883nm处和884nm处，可认为钻石为高温高压合成钻石。本发明具有检测简单、操作便捷、区分准确等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 钻石 发光 光谱 快速 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种钻石发光光谱的快速检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1，用波长405nm的激光辐照钻石样品表面；激光照射在钻石样品表面的晶格缺陷的特征后产生光致发光现象并形成光谱；步骤2，该光谱通过光纤机构被光谱仪接收并传输给电脑显示屏；该电脑显示屏根据钻石样品的不同特征显示相应晶格缺陷的峰位特征光谱图；步骤3，根据光谱图的峰位特征，观察峰位特征差异，由此确定钻石是天然或合成的；当光谱位置的峰位在415nm处和741nm处，则可认为钻石为天然钻石；若光谱位置的峰位在737nm处，且无415nm峰位，则可认为钻石为化学气相沉淀法合成钻石；若光谱位置的峰位在883nm处和884nm处，可认为钻石为高温高压合成钻石。
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